Daugiafunkcinė mikroskopijos sistema: atominės jėgos mikroskopas (AFM), konfokalinis mikroskopas ir artimojo lauko optinis mikroskopas (SNOM)

Padalinys: Fizikos fakultetas

Raktažodžiai: Paviršiaus morfologija, erdviškai išskirta liuminescencija, atominės jėgos mikroskopas, AFM, konfokalinis mikroskopas, artimojo lauko skenuojantis optinis mikroskopas, SNOM, WITec Alpha 300

Atsakingas žmogus: Dr. Gintautas Tamulaitis, tel.+37060034126,

Daugiafunkcinę mikroskopijos sistemą WITec Alpha 300 sudaro atominės jėgos mikroskopo, konfokalinio mikroskopo ir artimojo lauko skenuojančiojo optinio mikroskopo moduliai.

Įranga įgalina tirti bandinius su aukšta erdvine skiriamiaja geba. Atominės jėgos mikroskopas veikia kontaktiniame režime ir charakterizuoja bandinių paviršiaus morfologiją ~10 nm skiriamaja geba. Konfokalinis mikroskopas skirtas tirti bandinių fotoliuminescencijos parametrų (intensyvumo, juostos smailės padėties ir pločio) erdvinį pasiskirstymą. Konfokalinio mikroskopo skiriamoji geba bandinio paviršiaus plokštumoje yra apie 250 nm, o plokštumoje, statmenoje bandinio paviršiui 800 nm. Artimojo lauko skenuojantysis optinis mikroskopas vienu metu gali tirti paviršiaus morfologiją ir erdvinį liuminescencijos pasiskirstymą. Optinė skiriamoji geba yra ~100 nm. Paviršiaus morfologija charekterizuojama ~200 nm skiriamaja geba. Bandinių fotoliuminescencija žadinama nuolatinės veikos He-Cd lazerio 442 nm bangos ilgio spinduliuote arba lazerinio diodo 405 nm bangos ilgio spinduliuote. Liuminescencija registruojama 350-850 nm bangos ilgių ruože spektrometru su surištųjų krūvininkų kamera arba fotodaugintuvu. AFM skiriamoji geba ~ 10nm. Konfokalinio mikroskopo skiriamoji geba bandinio paviršiaus plokštumoje yra apie 250 nm, o plokštumoje, statmenoje bandinio paviršiui ­ 800 nm. Artimojo lauko skenuojančiojo optinio mikroskopo skiriamoji geba ~100 nm, paviršiaus morfologija charekterizuojama ~200 nm skiriamaja geba. Didžiausias vieno matavimo plotas 80×80 µm2.
Liuminescencija registruojama 350-850 nm bangos ilgių ruože. Aukštos skaitinės apertūros (NA) objektyvai: 50× NA=0,55; 60× NA=0,8; 100× NA=0,9. Visi matavimai atliekami kambario temperatūroje.

Panaudojimo galimybės. Paviršiaus morfologijos matavimas atominės jėgos mikroskopu (AFM).Erdviškai išskirtos liuminescencijos matavimai konfokaliniu mikroskopu. Erdviškai išskirtos liuminescencijos matavimai artimojo lauko skenuojančiuoju optiniu mikroskopu (SNOM)