Skenuojanti artimo lauko optinės mikroskopijos įranga (Alpha300R, WiTec)

Padalinys: Chemijos ir geomokslų fakultetas

Raktažodžiai: Skenuojantis artimo lauko optinis mikroskopas, SNOM, Alpha300R, WiTec, paviršių struktūra, cheminė sudėtis, paviršiaus morfologija

Atsakingas žmogus: Lina Mikoliūnaitė, +370 5 2193186, ; Arūnas Ramanavičius, +370 5 2193185,

Skenuojantis artimo lauko optinis mikroskopas (SNOM) integruotas su optiniu mikroskopu (gaunamas atspindžio vaizdas), Ramano mikroskopu (žadinimo šaltinis 532 nm) ir atominių jėgų mikroskopu.

Panaudojimo galimybės. SNOM galima tirti 532 nm lazeriui aktyvias nano matmenų paviršių struktūras. Ramano spektroskopija skirta nustatyti mėginio cheminei sudėčiai pasinaudojant junginių virpesiniais spektrais. Atominių jėgų mikroskopija galima vaizdinti paviršiaus morfologiją, turinčią nuo kelių nm iki 1 mikrono nelygumus.