Optinių elementų, skirtų 1064 nm, 532 nm ir 355 nm spinduliuotės bangos ilgiui, viso paviršiaus šiurkštumo įvertinimas iš sklaidos matavimų

Padalinys: Fizikos fakultetas

Raktažodžiai: Optinių elementų viso paviršiaus šiurkštumo įvertinimas, sklaidos matavimai, Ekspla, OceanOptics

Matavimai atliekami naudojant visuminės integruotos sklaidos matavimo stotį su nanosekundiniu Ekspla NL202 lazeriu. Sklaida matuojama OceanOptics etalono atžvilgiu.

Matavimų tikslumas: fono sklaida 1.4x10-5 (355 nm) ir 4,5x 10-6 (532 nm). Šiurkštumas pamatuojamas nuo 0,5 iki 10 nm. Stotimi galima matuoti bandinių, kurių skersmuo yra nuo 12,7 iki 28 nm ir storis nuo 2 iki 6 nm, sklaidos nuostolį.

Panaudojimo galimybės.  Įvairių opinių elementų (veidrodžių, filtrų, optinių padėklų, radialinės poliarizacijos elementų ir t.y., kurie yra skirti 1064 nm, 532 ir 355 nm bangos ilgių spinduliuotei) viso paviršiaus šiurkštumo įvertinimas.

Kontaktai: 

Lina Mažulė, 

Prof. Valdas Sirutkaitis, tel. +370 5 236 6005,