Matavimas atominės jėgos mikroskopu
Sukurta: 28 lapkričio 2018
- Padalinys: Gyvybės mokslų centras
- Raktažodžiai: AJM, atominių jėgų mikroskopija, jėgos kreivės, paviršiaus savybių vaizdavimas.
Kokybinė įvairių paviršių topografinė analizė ir palyginimas, manipuliacija ir litografija nanolygmenyje, elektrinis paviršiaus charakterizavimas.
Atliekama kontroliuojama paviršinė biomolekulių, ląstelių analizė nanolygmenyje, manipuliuojama atskiromis biomolekulėmis ir ląstelėmis bei tiriamos jų savybės.
Panaudojimo galimybės. Atlikti kontroliuojamą paviršinę biomolekulių, ląstelių analizę nanolygmenyje, manipuliuoti atskiromis biomolekulėmis ir ląstelėmis bei tirti jų savybes.