Spinduliuotės detektavimas 1 nm - 310 nm srityje

Sukurta: 30 lapkričio 2018
Padalinys: Fizikos fakultetas
Raktažodžiai: XUV spinduliuotė, detekcija, vakuuminė kamera

Paslaugai atlikti naudojamas XUV spinduliuotės detekcijos komplektas, kurį sudaro: 1) XUV detekcijos ir registravimo sistema. Spektrinė sritis nuo 1 nm iki 310 nm, skiriamoji geba 0,1 nm.
2) Vakuuminė kamera su siurbliu. Vidiniai kameros matmenys 610x810x175 mm, slėgis palaikomas 1x10-7 – 1000 mbar diapazone

Kontaktai: Prof. Mikas Vengris, tel. 8 5 2366031,